主要规格及技术指标

1.测角仪：采用光学编码器技术
2.扫描方式：θ/θ测角仪，测角仪垂直放置
3.可读最小步长：0.0001°，角度重现性：0.0001°，国际标准样品现场检测，全谱范围内所有峰的角度偏差不超过±0.01度
4.对于做含有Fe、Co、Ni、Mn元素的样品，可直接去除荧光，对于此类样品的测量灵敏度很高
5.提供DBO动态光路调整附件，DynamicBeam Optimization，可以提供非常优异的低角度性能，基本克服了常规阵列探测器低角度性能欠佳的弱点
6.采用新一代的陶瓷X光管技术，焦斑位置稳定，衰减小，寿命长；而且该光管为标准尺寸，对用户的限制小；因为采用的是封闭靶技术，后期维护非常方便
7.全自动可变狭缝，用户可以自由选择固定狭缝大小或固定测量面积模式

主要功能及特色

用于物理、化学、药物学、冶金学、矿物学、地质学、高分子材料、生命科学及材料科学。可以分析岩石矿物、粘土矿物、合金、陶瓷、食品、药物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半导体材料、超导材料、纳米材料、超晶格材料和磁性材料的物质晶体结构分析，能对岩石、土壤、金属材料、化工原料与产品、纳米材料、石墨烯、人体结石等试样中的物相进行定性与定量分析，并可测定物相的点阵参数、晶粒度、结晶度及开展有关晶体结构方面的研究。

主要附件及配置

无