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微焦斑单晶衍射仪
微焦斑单晶衍射仪
仪器编号
Q0135366
规格
安捷伦SuperNova E
生产厂家
型号
安捷伦SuperNova E
制造国家
156
分类号
2400404
放置地点
古镇口校区国家工程实验室楼B032
出厂日期
2013-11-01
购置日期
2013-11-01
入网日期
2022-10-13

主要规格及技术指标

1.检测器:采用级别zei高、缺陷率zei低的CCD芯片,是高灵敏度和大有效探测面积的zei佳组合,适合于收集蛋白质晶体和小分子晶体的衍射数据。
2.光源:(1)双光源平台设计,计算机控制切换Mo和Cu光源;(2)SuperNova使用的双光源为高强度、低能耗的微焦斑X射线源。安捷伦科技自主开 发的Nova(Cu)和Mova(Mo)光源,融合了zei新的微焦斑和多层膜光学技术。Mova光源光强度比带单导管的传统封闭管高2.5 倍;Nova光源光强度比带光学部件的5 kW 转靶高3 倍。(3)采用一体化光路设计,zei大限度地减少了现场对光和更换X光管后光路校正的需求。
3. 测角仪: 4个角度都可以自由转动,是兼顾常规晶体结构分析和专业晶体学研究的唯一选择。
4. 系统控制和数据分析软件:CrysAlispro是一个功能强大的全自动软件,实现对仪器的控制、数据采集和处理。软件免费更新,可以多地点、多用户使用。

主要功能及特色

X’Pert Pro MPD衍射仪广泛应用于物理、化学、药物学、冶金学、高分子材料、生命科学及材料科学。可以分析黏土矿物、合金、陶瓷、食品、药物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半导体材料、超导材料、纳米材料、超晶格材料和磁性材料的物质晶体结构分析,能对岩石、土壤、金属材料、化工原料与产品、人体结石等试样中的物相进行定性与定量分析,并可测定物相的点阵参数、晶粒度、结晶度及开展有关晶体结构方面的研究。材料可以是单晶体、多晶体、纤维、薄膜等片状、块状、粉末状固体。

主要附件及配置

公告名称 公告内容 发布日期